Niveau d'étude
BAC +3
Composante
Polytech Dijon (Ex-ESIREM)
Description
Bases de cristallographie, caractérisation d'un matériau cristallisé par diffraction des rayons X
Objectifs
- Connaître les caractéristiques d’un matériau cristallisé
- Savoir représenter la symétrie d’orientation d’un matériau cristallisé grâce à une projection stéréographique
- Savoir interpréter la dénomination d’un groupe d’espace et sa représentation via les tables internationales de cristallographie
- Faire le lien entre table internationale et prédiction du diagramme de diffraction des rayons X
- Connaître les principes de la diffraction des rayons, maîtriser le fonctionnement d’un diffractomètre de rayons X et savoir interpréter un diffractogramme de rayons X
Heures d'enseignement
- CMCours Magistral12,25h
- TDTravaux Dirigés14h
- TPTravaux Pratiques4h
Pré-requis obligatoires
- Notions sur la formation des solides
- Les différents types de solides cristallins
- Empilements compacts, masse volumique et sites vacants